Η αναζήτηση επέστρεψε 17 αποτελέσματα.

Ταξινόμηση
Αποτελέσματα
1.
Πρωτόκολλα πληθυσμών Όθων Σ. Μιχαήλ; Πανεπιστήμιο Πατρών, Πολυτεχνική Σχολή, Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής από
  • Μιχαήλ, Όθων Σ
  • Πανεπιστήμιο Πατρών Σχολή Επιστημών Υγείας Τμήμα Ιατρικής [Πολυτεχνική Σχολή, Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Greek, Modern (1453- )
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Πάτρα [χ.ό] 2009
Ηλεκτρονική πρόσβαση:
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 006.3 ΜΙΧ.
2.
Nursing informatics : where caring and technology meet / Marion J. Ball ... [et al.], editors. από
  • Ball, Marion J [επιμελητής]
  • Hannah, K. J [επιμελητής]
  • Jelger, U. G [επιμελητής]
Σειρά: Computers in health care
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York : Springer, c1988
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 610.730 285 NUR.
3.
Measurement and modeling of computer systems (1982) Proceedings of the 1982 ACM SIGMETRICS Conference Seattle, Washington August 30 - September 1, 1982 ACM/SIGMETRICS Vol.11, No.4, Winter 1982-1983
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1982
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
4.
Measurement and modeling of computer systems (1985) Proceedings of the 1985 ACM SIGMETRICS Conference Austin, TX August 26-29, 1985 ACM/SIGMETRICS Vol.13, No.2, August 1985
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1985
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
5.
Measurement and modeling of computer systems (1987) Proceedings of the 1987 ACM SIGMETRICS Conference Banff, Alberta, Canada May 11-14, 1987 ACM/SIGMETRICS (Vol.15, No.1, May 1987 Special issue)
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1987
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
6.
Measurement and modeling of computer systems (1989) Proceedings 1989 ACM SIGMETRICS and PERFORMANCE'89 International Conference, May 23-26, 1989 Berkeley, California, USA ACM/SIGMETRICS Vol.17, No.1, May 1989
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1989
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
7.
Measurement and modeling of computer systems (1990) Proceedings 1990 ACM SIGMETRICS Conference Boulder, Colorado May 22-25, 1990 ACM/SIGMETRICS Vol.18, No.1, May 1990
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1990
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
8.
Measurement and modeling of computer systems (1988) Proceedings of the 1988 ACM SIGMETRICS Conference Santa Fe, New Mexico, USA May 24-27, 1988 ACM/SIGMETRICS (Vol.16, No.1, Special Issue, May 1988)
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1988
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
9.
Measurement and modeling of computer systems (1992) Proceedings 1992 ACM SIGMETRICS International Conference Newport, Rhode Island, U.S.A, June 1-5, 1992 ACM/SIGMETRICS Vol. 20, No. 1, June 1992
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1992
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
10.
Measurement and modeling of computer systems (1993) Proceedings 1993 ACM SIGMETRICS conference Santa Clara, California, USA, May 10-14, 1993 ACM/SIGMETRICS Vol. 21, No 1, June 1993
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1993
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
11.
Measurement and modeling of computer systems (1994) Proceedings 1994 ACM SIGMETRICS conference Mashville, Tennessee, USA, May 16-20, 1994 ACM/SIGMETRICS Vol. 22, No 1, May 1994
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1994
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
12.
Measurement and Modeling of Computer Systems (1995) Proceedings 1995 ACM SIGMETRICS/PERFORMANCE Joint International Conference. Ottawa, Ontario, Canada, May 15-19, 1995 ACM SIGMETRICS Vol. 23, No 1, May 1995 από
  • ACM/SIGMETRICS [fnd]
  • IFIP Working Group 7.3 [fnd]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1995
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (2)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3, ...
13.
Measurement and Modeling of Computer Systems (1996) Proceedings 1996 ACM SIGMETRICS International Conference Philadelphia, Pennsylvania, U.S.A , May 23-26 , 1996 ACM/SIGMETRICS (Special Issue) Vol. 24 , No 1 , May 1996 από
  • ACM/SIGMETRICS [fnd]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1996
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
14.
Measurement and Modeling of Computer Systems (1997) Proceedings 1997 of the ACM SIGMETRICS International Conference Seattle, Washington, U.S.A. June 15-18 1997 ACM SIGMETRICS (Special Issue) vol. 25 no 1 June 1997 από
  • ACM/SIGMETRICS [fnd]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery 1997
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
15.
Measurement and Modeling of Computer Systems (1998) Proceedings of the ACM SGMETRICS Joint Intern. Conference 1998 Madison, Wiskonsin, June 22-26 ACM SIGMETRICS Special Issue vol. 26, no 1 1998 ACM SIGMETRICS and IFIP Working Group 7.3
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1998
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
16.
Measurement and Modeling of Computer Systems (1999) Proceedings of the ACM SIGMETRICS '99 International Conference Atlanta, Georgia, USA, May 1-4, 1999 ACM SIGMETRICS Special Issue: vol. 27, no 1, June 1999 από
  • ACM/SIGMETRICS [fnd]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο
Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery 1999
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 003.3.
17.
Model checking / Edmund M. Clarke, Jr., Orna Grumberg, and Doron A. Peled. από
  • Clarke, Edmund M., Jr. (Edmund Melson), 1945-2020 [συγγραφέας.]
  • Grumberg, Orna [συγγραφέας.]
  • Peled, Doron A, 1962- [συγγραφέας.]
Τύπος υλικού: Κείμενο Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Cambridge, Mass. : MIT Press, c1999
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1)Ταξιθετικός αριθμός: 004.21 CLA.
Σελίδες
Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud