Εξώφυλλο από Amazon.com
Measurement and modeling of computer systems (1993) Proceedings 1993 ACM SIGMETRICS conference Santa Clara, California, USA, May 10-14, 1993 ACM/SIGMETRICS Vol. 21, No 1, June 1993
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1993Περιγραφή: x, 286p. figISBN: - 0 89791 580 1
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 003.3 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
περιεχει βιβλιογραφικές αναφορές
