Εξώφυλλο από Amazon.com
Measurement and modeling of computer systems (1994) Proceedings 1994 ACM SIGMETRICS conference Mashville, Tennessee, USA, May 16-20, 1994 ACM/SIGMETRICS Vol. 22, No 1, May 1994
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1994Περιγραφή: xi, 294p. figISBN: - 0 89791 659 X
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 003.3 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές
