Measurement and modeling of computer systems (1987) Proceedings of the 1987 ACM SIGMETRICS Conference Banff, Alberta, Canada May 11-14, 1987 ACM/SIGMETRICS (Vol.15, No.1, May 1987 Special issue)

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1987Περιγραφή: viii, 267p. figISBN:

Θέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
	Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής	003.3 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο

περιέχει βιβλιογραφία

Κοινοποίηση