Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 7923 8083 5
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.395 SAC (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281864 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
621.395 ALM Electronic Logic Systems | 621.395 BEN Dynamic power management : | 621.395 RAB Digital integrated circuits | 621.395 SAC Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits | 621.395 SCH Integrated circuits for computers : | 621.395 SIN An artificial intelligence approach to test generation | 621.395 SMI Integrated injection logic |
includes bibl. references