Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Τύπος υλικού: ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. AgrawalΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston Kluwer Academic Publishers c1998Περιγραφή: xiv,308p. figISBN:- 0 7923 8083 5
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.395 SAC (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281864 |
includes bibl. references