An artificial intelligence approach to test generation
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 89838 185 1
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.395 SIN (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281868 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
621.395 RAB Digital integrated circuits | 621.395 SAC Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits | 621.395 SCH Integrated circuits for computers : | 621.395 SIN An artificial intelligence approach to test generation | 621.395 SMI Integrated injection logic | 621.395 SZE VLSI Technology | 621.395 ULL Computational Aspects of VLSI |
Βιβλιογραφία : σσ. 189-193