Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

An artificial intelligence approach to test generation - Boston Kluwer Academic Publishers c1987 - x,193p. fig. - Kluwer International Series in Engineering and Computer Science .

Βιβλιογραφία : σσ. 189-193

ISBN: 0 89838 185 1

Subjects--Topical Terms:
INTEGRATED CIRCUITS
VLSI
Τεχνητή νοημοσύνη