An artificial intelligence approach to test generation

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Kluwer International Series in Engineering and Computer ScienceΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston Kluwer Academic Publishers c1987Περιγραφή: x,193p. figISBN:

Θέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Συλλογή	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10	Non-fiction	621.395 SIN (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		025000281868

Βιβλιογραφία : σσ. 189-193

Κοινοποίηση