Lock-in Thermography [electronic resource] Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Springer Series in Advanced Microelectronics ; 10Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2010Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9783642024177
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |