Data Mining and Diagnosing IC Fails [electronic resource] by Leendert M. Huisman
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Σειρά: Frontiers in Electronic Testing ; 31Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9780387263519
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |