System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba.
Τύπος υλικού: ΚείμενοΣειρά: The Morgan Kaufmann series in systems on siliconΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.Περιγραφή: xxxvi, 856 σ. : εικ. ; 25 εκISBN:- 9780123739735 (σκληρό εξώφυλλο)
- 621.395 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281377 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281374 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 3 | Διαθέσιμο | 025000281375 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 4 | Διαθέσιμο | 025000281376 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 5 | Διαθέσιμο | 025000281371 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 6 | Διαθέσιμο | 025000281372 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 7 | Διαθέσιμο | 025000281373 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 8 | Διαθέσιμο | 025000281369 | |
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 9 | Διαθέσιμο | 025000281370 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.1, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
621.395 PUN Basic VLSI design : | 621.395 RAB Digital integrated circuits : | 621.395 ROY Low-power CMOS VLSI circuit design / | 621.395 SYS System-on-chip test architectures : | 621.395 SYS System-on-chip test architectures : | 621.395 SYS System-on-chip test architectures : | 621.395 SYS System-on-chip test architectures : |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.