Εξώφυλλο από Amazon.com
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba.
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΣειρά: The Morgan Kaufmann series in systems on siliconΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.Περιγραφή: xxxvi, 856 σ. : εικ. ; 25 εκISBN: - 9780123739735 (σκληρό εξώφυλλο)
- 621.395 23
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281377 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281374 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 3 | Διαθέσιμο | 025000281375 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 4 | Διαθέσιμο | 025000281376 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 5 | Διαθέσιμο | 025000281371 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 6 | Διαθέσιμο | 025000281372 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 7 | Διαθέσιμο | 025000281373 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 8 | Διαθέσιμο | 025000281369 | |
|
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 SYS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 9 | Διαθέσιμο | 025000281370 |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
