Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. - Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008. - xxxvi, 856 σ. : εικ. ; 25 εκ. - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon . - The Morgan Kaufmann series in systems on silicon .

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

ISBN: 9780123739735 (σκληρό εξώφυλλο)

LCCN: 2007023373

Subjects--Topical Terms:
Ολοκληρωμένα κυκλώματα--Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας

Dewey Class. No.: 621.395