Physical Principles of Electron Microscopy [electronic resource] An Introduction to TEM, SEM, and AEM by Ray F. Egerton
Τύπος υλικού: ΚιτΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005Περιγραφή: v.: digitalISBN:- 9780387260167
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
Electronic Resource | ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |