IDDQ testing of VLSI circuits / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0792393155
- 621.39/5
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.395 IDD (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000282246 |
"A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."
"Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."
Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.