Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

IDDQ testing of VLSI circuits / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins. - 5th print. - Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997, c1993. - 170 σ. : εικ. ; 27 εκ. - Frontiers in electronic testing .

"A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications." "Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4." Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

ISBN: 0792393155

Subjects--Topical Terms:
Ολοκληρωμένα κυκλώματα--Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας

Dewey Class. No.: 621.39/5