Η αναζήτηση επέστρεψε 2 αποτελέσματα.

Αποτελέσματα
	1.	Fault Tolerant and Fault Testable Hardware Design από Lala, Parag K [aut] Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο Γλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Englewood Cliffs N.J. Prentice-Hall c1985 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 004.2 LAL. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)
	2.	Digital circuit testing and testability Parag K. Lala, auth. από Lala, Parag K Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Κοινό: Ειδικευμένο; Λεπτομέρειες δημοσίευσης: San Diego Academic Press 1997 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής (1)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 LAL. Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)

Βελτιώστε την αναζήτησή σας