Digital circuit testing and testability Parag K. Lala, auth.

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: San Diego Academic Press 1997Περιγραφή: xii,199p.:figISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
	Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής	621.395 LAL (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο

Κοινοποίηση