Η αναζήτηση επέστρεψε 141 αποτελέσματα.

Αποτελέσματα
	141.	System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. από Wang, Laung-Terng [επιμελητής.] Stroud, Charles E [επιμελητής.] Touba, Nur A [επιμελητής.] Σειρά: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Τύπος υλικού: Κείμενο; Διάταξη: έντυπο ; Λογοτεχνικό είδος: Μη λογοτεχνικό Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008 Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (9)Ταξιθετικός αριθμός: 621.395 SYS, ... Προσθήκη στο καλάθι (αφαίρεση)

Βελτιώστε την αναζήτησή σας