Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing Debashis Bhattacharya, John P. Hayes authors
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 7923 9058 X
- 621.395 20th ed.
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.2 | Non-fiction | 621.395 BHA (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000282484 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.2, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
621.395 ADV Advanced research in VLSI | 621.395 BAR Built-in test for VLSI: preudorandom techniques | 621.395 BEL Low-Power Digital VLSI Design | 621.395 BHA Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing | 621.395 BHA Advanced ASIC chip synthesis | 621.399 CHI Interactive Pattern Recognition | 621.399 COL Optical Pattern Recognition Using Holographic Techniques |