Measurement and modeling of computer systems (1994) Proceedings 1994 ACM SIGMETRICS conference Mashville, Tennessee, USA, May 16-20, 1994 ACM/SIGMETRICS Vol. 22, No 1, May 1994
Τύπος υλικού: ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Association for Computing Machinery c1994Περιγραφή: xi, 294p. figISBN:- 0 89791 659 X
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 003.3 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
Browsing Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές