Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

The state of the Art:from device testing to reconfigurable systems. FTC/3 International symposium on Fault-Tolerant Computing Palo Alto, CA, June 20-23, 1973

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York IEEE Computer Society Press c1973Περιγραφή: v, 182p. figΘέμα(τα):

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
	Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής	004.2 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο

Προηγούμενο			Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη	Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη				Επόμενο
Προηγούμενο	004.2 Fault-Tolerant Computing Symposium	004.2 Fault-Tolerant Computing Symposium	004.2 Fault-Tolerant Computing	004.2 The state of the Art:from device testing to reconfigurable systems. FTC/3	004.2 Fault-Tolerant Computing FTCS 20 (1990)	004.2 Fault-Tolerant Computing FTCS 21 (1991)	004.2 Fault-Tolerant Computing	Επόμενο

Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές

Κοινοποίηση