Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

The state of the Art:from device testing to reconfigurable systems. FTC/3 International symposium on Fault-Tolerant Computing Palo Alto, CA, June 20-23, 1973 - New York IEEE Computer Society Press c1973 - v, 182p. fig.

Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές

Subjects--Topical Terms:
FAULT--TOLERANT COMPUTING
FTCS
IEEE
PROCEEDINGS