Digital test engineering
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 471 85135 3
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 548 COR (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281794 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
621.381 532 4 MUL Adaptive filters and equalisers | 621.381 532 4 MUL Adaptive filters and equalisers | 621.381 548 BEE Testability concepts for digital ICs | 621.381 548 COR Digital test engineering | 621.381 548 KEC Burn-in testing | 621.381 548 LOP Advanced Techniques for embedded systems design adn test | 621.381 548 TUR Design to Test |
περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές