Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Digital test engineering - New York John Wiley & Sons c1987 - xiv,337p. fig.

περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές

ISBN: 0 471 85135 3

Subjects--Topical Terms:
ELECTRONIC APPARATUS--TESTING
Ηλεκτρονικά
VLSI
Ηλεκτρονική