Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu.
Τύπος υλικού: ΚείμενοΣειρά: The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 88Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1990.Περιγραφή: xii, 231 σ. : εικ. ; 24 εκΘέμα(τα): Ταξινόμηση DDC:- 621.397 32
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.397 32 JHA (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000093669 | ||
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.397 32 JHA (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281278 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.1, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||||||||
621.395 WES CMOS VLSI design : | 621.395 WHI Relaxation techniques for the simulation of VLSI circuits / | 621.395 ΥΕΑ Practical low power digital VLSI design / | 621.397 32 JHA Testing and reliable design of CMOS circuits / | 621.398 7 CAR Readings in information visualization : | 621.399 BAL Computer vision | 621.399 BAL Computer vision |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές.