Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Jha, Niraj K.

Testing and reliable design of CMOS circuits / by Niraj K. Jha and Sandip Kundu. - Boston : Kluwer Academic Publishers, 1990. - xii, 231 σ. : εικ. ; 24 εκ. - The Kluwer international series in engineering and computer science SECS 88 .

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές.

Subjects--Topical Terms:
Ημιαγωγοί
Ολοκληρωμένα κυκλώματα --Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας--Σχέδιο και κατασκευή.

Dewey Class. No.: 621.397 32