Material characterization using ion beams / edited by J.P. Thomas; A. Cachard.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0306357283
- 530.416 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Πληροφοριακό Αναγνωστήριο | Π/Σ 530.416 NAT (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Δε δανείζεται | 025000001110 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Πληροφοριακό Αναγνωστήριο Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
||
Π/Σ 530.414 NAT Fluctuations, instabilities, and phase transitions / | Π/Σ 530.414 NAT Electron-phonon interactions and phase transitions : | Π/Σ 530.416 NAT Site characterization and aggregation of implanted atoms in materials / | Π/Σ 530.416 NAT Material characterization using ion beams / | Π/Σ 530.417 5 NAT Physics of nonmetallic thin films / | Π/Σ 530.42 DYN Dynamic aspects of structural change in liquids and glasses / | Π/Σ 530.42 NAT Theoretical challenges in the dynamics of complex fluids : |