Material characterization using ion beams /

Material characterization using ion beams / edited by J.P. Thomas; A. Cachard. - New York : Plenum Press, 1978. - xviii, 517 σ. : εικ. ; 26 εκ. - NATO ASI series : Series B: Physics 28. . - NATO ASI series. Series B. Physics 28. .



0306357283


Ιόντα

530.416
Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud