Physical Principles of Electron Microscopy [electronic resource] An Introduction to TEM, SEM, and AEM by Ray F. Egerton
Τύπος υλικού:![Κιτ](/opac-tmpl/lib/famfamfam/MX.png)
- 9780387260167
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα | Διαθέσιμο |