VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.

Συντελεστής(ές):

Τύπος υλικού:

ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.Περιγραφή: xxx, 777 σ. : εικ. ; 25 εκISBN:

Θέμα(τα):

Ταξινόμηση DDC:

Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου	Τρέχουσα βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός αντιτύπου	Κατάσταση	Ημερομηνία λήξης	Ραβδοκώδικας
Book [21]	ΒΚΠ - Αγρίνιο Βασική Συλλογή	621.395 VLS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω))	1	Διαθέσιμο		026000279628

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

Κοινοποίηση