Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. - Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006. - xxx, 777 σ. : εικ. ; 25 εκ.

Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.

ISBN: 9780123705976

Subjects--Topical Terms:
Ολοκληρωμένα κυκλώματα--Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας

Dewey Class. No.: 621.395