Structural and chemical analysis of materials X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy J. P. Eberhart ; Translated by J. P. Eberhart; translated by J. P. Eberhart
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0471950149
- 530.4
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Φυσικό | 530.4 EBE (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000022331 | |
![]() |
Χημείας | 530.4 E (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000080484 |
Browsing Χημείας shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Includes appendix, references and index