000 | 00979nam a2200277 u 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 10105694 | ||
003 | upatras | ||
005 | 20210419121018.0 | ||
008 | 000517s eng | ||
020 | _a0 7695 0525 2 | ||
040 |
_aΒιβλιοθήκη ΙΤΥ _cΒιβλιοθήκη ΙΤΥ |
||
040 |
_aXX-XxUND _cΒιβλιοθήκη ΙΤΥ |
||
082 | 0 | 4 | _a621.395 |
245 | 1 | 0 |
_aQuality Electronic Design ISQED 2000 _bProceedings IEEE 2000 1rst International Symposium, March 20-22,2000 San Jose California |
260 |
_aLos Alamitos _bIEEE _c2000 |
||
300 | _cxxii,524p.:fig. | ||
650 | 4 |
_aVLSI _924366 |
|
650 | 4 |
_aPROCEEDINGS _924278 |
|
650 | 4 |
_aΠοιοτικός έλεγχος _xΠρότυπα _912361 |
|
650 | 4 |
_aELECTRONIC DESIGN _9125065 |
|
650 | 4 |
_aΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ _9113060 |
|
650 | 4 |
_aIEEE _924256 |
|
650 | 4 |
_aΠοιοτικός έλεγχος _964898 |
|
942 | _2ddc | ||
999 |
_c90474 _d90474 |