000 00979nam a2200277 u 4500
001 10105694
003 upatras
005 20210419121018.0
008 000517s eng
020 _a0 7695 0525 2
040 _aΒιβλιοθήκη ΙΤΥ
_cΒιβλιοθήκη ΙΤΥ
040 _aXX-XxUND
_cΒιβλιοθήκη ΙΤΥ
082 0 4 _a621.395
245 1 0 _aQuality Electronic Design ISQED 2000
_bProceedings IEEE 2000 1rst International Symposium, March 20-22,2000 San Jose California
260 _aLos Alamitos
_bIEEE
_c2000
300 _cxxii,524p.:fig.
650 4 _aVLSI
_924366
650 4 _aPROCEEDINGS
_924278
650 4 _aΠοιοτικός έλεγχος
_xΠρότυπα
_912361
650 4 _aELECTRONIC DESIGN
_9125065
650 4 _aΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ
_9113060
650 4 _aIEEE
_924256
650 4 _aΠοιοτικός έλεγχος
_964898
942 _2ddc
999 _c90474
_d90474