| 000 | 00819nam a22002533u 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 10100822 | ||
| 003 | upatras | ||
| 005 | 20210223181751.0 | ||
| 008 | 991022s eng | ||
| 020 | _a0 471 85135 3 | ||
| 040 |
_aΒιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ _cΒιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ |
||
| 041 | 0 | _aeng | |
| 245 | 1 | 0 | _aDigital test engineering |
| 260 |
_aNew York _bJohn Wiley & Sons _cc1987 |
||
| 300 |
_axiv,337p. _bfig. |
||
| 500 | _aπεριέχει βιβλιογραφικές αναφορές | ||
| 650 | 4 |
_aELECTRONIC APPARATUS _xTESTING _9113593 |
|
| 650 | 4 |
_aΗλεκτρονικά _915695 |
|
| 650 | 4 |
_aVLSI _924366 |
|
| 650 | 4 |
_aΗλεκτρονική _942793 |
|
| 700 | 1 |
_aCortner, J. M. _4aut _9113594 |
|
| 942 | _2ddc | ||
| 999 |
_c80958 _d80958 |
||