000 01372nam a2200313 u 4500
001 10024036
003 upatras
005 20210119112503.0
008 970324s1995 us eng
020 _a0792395646
040 _aGR-PaULI
_cGR-PaULI
041 0 _aeng
082 0 4 _a621.381 548
100 1 _aRoberts, Gordon W.
_9150327
245 1 0 _aAnalog signal generation for built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits
_cby Gordon W. Roberts, Albert K. Lu
260 _aBoston
_bKluwer Academic Publishers
_c1995
300 _aviii, 122 p.
_bfig., tab.
_c23 cm.
490 0 _aThe Kluwer international series in engineering and computer science
_lAnalog circuits and signal processing
_v312
504 _aIncludes references and index
650 4 _aΕπεξεργασία σημάτων
_9912
650 4 _aΓεννήτριες σημάτων
_9150328
650 4 _aΕπεξεργασία σημάτων
_xΨηφιακές τεχνικές
_91746
650 4 _aΟλοκληρωμένα κυκλώματα
_xΣχέδιο και κατασκευή
_931759
700 1 _aLu, Albert K.
_9150329
760 1 _aThe Kluwer international series in engineering and computer science
_g312
942 _2ddc
_cBK15
998 _cΔΡΑΚΟΠΟΥΛΟΥ
_d1999-08
999 _c118315
_d118315