Εικόνα εξωφύλλου από Amazon
Εξώφυλλο από Amazon.com
Κανονική προβολή Προβολή MARC Προβολή ISBD

Uncovering plagiarism, authorship and social software misuse - PAN'08 : proceedings, 22 July 2008, Patras Greece / Benno Stein, Efstathios Stamatatos [and] Moshe Koppel.

Κατά: Συντελεστής(ές): Τύπος υλικού: ΚείμενοΚείμενοΣειρά: Workshop Proceedings (University of Patras)Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Patras : University of Patras, 2008. Περιγραφή: 32 σ. : εικ. ; 30 εκISBN:
  • 9789606843082
Θέμα(τα): Ταξινόμηση DDC:
  • 006.35 23
Πηγές στο διαδίκτυο:
Αντίτυπα
Τύπος τεκμηρίου Τρέχουσα βιβλιοθήκη Ταξιθετικός αριθμός Αριθμός αντιτύπου Κατάσταση Ημερομηνία λήξης Barcode
Book [21] Book [21] ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή 006.35 EUR (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) 1 Διαθέσιμο 025000167597

Περιλαμβάνει βιβλιογραφία.

Πανεπιστήμιο Πατρών, Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης, 265 04, Πάτρα
Τηλ: 2610969621, Φόρμα επικοινωνίας
Εικονίδιο Facebook Εικονίδιο Twitter Εικονίδιο Soundcloud