Αποτελέσματα
|
41.
|
|
|
42.
|
|
|
43.
|
|
|
44.
|
|
|
45.
|
|
|
46.
|
|
|
47.
|
|
|
48.
|
|
|
49.
|
by Erdogan Madenci, Ibrahim Guven από
- Madenci, Erdogan
- Guven, Ibrahim
Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer Science+Business Media, LLC 2006
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1).
|
|
50.
|
|
|
51.
|
|
|
52.
|
|
|
53.
|
Advanced Test Methods for SRAMs [electronic resource] Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies by Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel από
- Bosio, Alberto
- Dilillo, Luigi
- Girard, Patrick
- Pravossoudovitch, Serge
- Virazel, Arnaud
- SpringerLink (Online service)
Έκδοση: 1
Τύπος υλικού: Κιτ Γλώσσα: Αγγλικά
Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Boston, MA Springer-Verlag US 2010
Διαθεσιμότητα: Διαθέσιμα αντίτυπα για δανεισμό: ΒΚΠ - Πατρα (1).
|
|
54.
|
|
|
55.
|
|
|
56.
|
|
|
57.
|
|
|
58.
|
|
|
59.
|
|
|
60.
|
|