Principles of testing electronic systems / Samiha Mourad, Yervant Zorian.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0471319317
- 621.381 548 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 48 MOU (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000283424 | |
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | 621.381 48 MOU (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 2 | Διαθέσιμο | 025000281938 | ||
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | 621.381 48 MOU (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 3 | Διαθέσιμο | 025000281939 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
||
621.381 046 LIC Multichip module design,fabrication, and testing | 621.381 046 TUM Microelectronics Packaging Handbook | 621.381 331 LEE Advances in microstrip and printed antennas | 621.381 48 MOU Principles of testing electronic systems / | 621.381 5 DAV Random Testing of Digital Circuits | 621.381 5 SED Μικροηλεκτρονικά κυκλώματα / | 621.381 5 THO Electron beam testing technology |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.