Εξώφυλλο από Amazon.com
Quality Electronic Design ISQED 2005 Proceedings of the 6th International Symposium on March 21 - 23 , 2005 San Jose, California
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Los Alamitos, California IEEE Computer Society c2005Περιγραφή: xxiii,710p. fig.,tablISBN: - 0769523013
- 621.395 21η
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 621.395 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
Browsing Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
|
|
|
|
||
| 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2002 | 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2003 | 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2004 | 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2005 | 621.395 0287 RAJ Arithmetic built-in sel-test for embedded systems | 621.395 ABR Digital systems testing and testable design / | 621.395 ANN Digital CMOS circuit design |
