Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0792379918
- 621.395 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | 621.395 BUS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000310742 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήρια.