Fault Diagnosis of Digital Systems Don L. Cannon
Τύπος υλικού: ΚείμενοΛεπτομέρειες δημοσίευσης: Manton Lane, UK Texas Instruments 1983Περιγραφή: iv, Αριθμηση ανα κεφάλαιοISBN:- 0 904047 41 5
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Book [21] | ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 958 CAN (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000283523 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||||||
621.381 548 KEC Burn-in testing | 621.381 548 LOP Advanced Techniques for embedded systems design adn test | 621.381 548 TUR Design to Test | 621.381 958 CAN Fault Diagnosis of Digital Systems | 621.381 959 2 BOW VLSI systems design for digital signal processing / | 621.381 ALL Microelectronics | 621.381 HAL Microelectronics |
Ειναι δωρεα απο το Εργαστηριο Ψηφιακων Ηλεκτρονικων Συστηματων
Glossary pp. G-1 - G4, Index p. I-1