Electron beam testing technology
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 306 44360 0
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 5 THO (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000283445 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
![]() |
||
621.381 48 MOU Principles of testing electronic systems / | 621.381 5 DAV Random Testing of Digital Circuits | 621.381 5 SED Μικροηλεκτρονικά κυκλώματα / | 621.381 5 THO Electron beam testing technology | 621.381 532 4 HAM Digital Filters | 621.381 532 4 HAY Adaptive filter theory / | 621.381 532 4 HAY Adaptive filter theory / |
βιβλιογραφια ανα κεφάλαιο ΕΠΕΑΕΚ/ΙΤΥ