Testing and testable design of high-density random-access memories / by Pinaki Mazumder and Kanad Chakraborty.
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0792397827
- 621.397 32 23
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ΒΚΠ - Πατρα Βασική Συλλογή | Non-fiction | 621.397 32 MAZ (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000281789 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Βασική Συλλογή, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
||
621.395 SYS System-on-chip test architectures : | 621.395 VLS VLSI test principles and architectures : | 621.395 VLS VLSI test principles and architectures : | 621.397 32 MAZ Testing and testable design of high-density random-access memories / | 629.831 2 AKA Statistical analysis and control of dynamic systems / | 650.015 13 MIZ Finite mathematics with applications for business and social sciences / | 658.403 52 PFL Optimization of stochastic models : |
Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.