Εξώφυλλο από Amazon.com
Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Marcel Dekker Inc. c1998Περιγραφή: xvii,475p. figISBN: - 0 8247 0182 8
- 621.381 5
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.10 | Non-fiction | 621.381 5 DAV (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000283382 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.10, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
|
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη | ||
| 621.381 046 TUM Microelectronics Packaging Handbook | 621.381 331 LEE Advances in microstrip and printed antennas | 621.381 48 MOU Principles of testing electronic systems / | 621.381 5 DAV Random Testing of Digital Circuits | 621.381 5 SED Μικροηλεκτρονικά κυκλώματα / | 621.381 5 THO Electron beam testing technology | 621.381 532 4 HAM Digital Filters |
