Εξώφυλλο από Amazon.com
Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
Τύπος υλικού:
ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: New York Ellis Horwood Ltd c1995Περιγραφή: x,206p. figISBN: - 0 13 108994 3
| Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Συλλογή | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
![Book [21]](https://library.upatras.gr/nereus/nereus-book-yes.png "Book [21]")
Book [21]
|
ΒΚΠ - Πατρα Αποθήκη 2.1 | Non-fiction | 621.381 548 DIS (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο | 025000286102 |
Browsing ΒΚΠ - Πατρα shelves, Shelving location: Αποθήκη 2.1, Collection: Non-fiction Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
|
|
|
|
|
|
|
||
| 621.381 53 HOL Digital logic design / | 621.381 548 ABR Digital systems testing and testable design / | 621.381 548 ABR Digital systems testing and testable design / | 621.381 548 DIS Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems | 621.381 548 JHA Testing of digital systems / | 621.381 73 HAS Analog VLSI design nMOS and CMOS / | 621.381 73 HER Monolithic integrated circuits : |
bibl. references:pp.195-202
