Arithmetic built-in sel-test for embedded systems
Τύπος υλικού: ΚείμενοΓλώσσα: Αγγλικά Λεπτομέρειες δημοσίευσης: Upper Saddle River NJ Prentice Hall c1998Περιγραφή: xii,268p. figISBN:- 0 13 756438 4
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 621.395 0287 RAJ (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
Browsing Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
621.395 Quality Electronic Design ISQED 2003 | 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2004 | 621.395 Quality Electronic Design ISQED 2005 | 621.395 0287 RAJ Arithmetic built-in sel-test for embedded systems | 621.395 ABR Digital systems testing and testable design / | 621.395 ANN Digital CMOS circuit design | 621.395 KEA Reuse methodology manual |
biblography:pp.249-263