A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 1 | Διαθέσιμο |