Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
Τύπος υλικού:![Κείμενο](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0 8186 0798 x
Τύπος τεκμηρίου | Τρέχουσα βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός αντιτύπου | Κατάσταση | Ημερομηνία λήξης | Ραβδοκώδικας |
---|---|---|---|---|---|---|
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής | 621.381 548 (Περιήγηση στο ράφι(Άνοιγμα παρακάτω)) | 1 | Διαθέσιμο |
Browsing Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής shelves Κλείσιμο περιήγησης ραφιού(Απόκρυψη περιήγησης ραφιών)
![]() |
![]() |
Η εικόνα εξωφύλλου δεν είναι διαθέσιμη |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
||
621.381 5324 HAM Digital filters / | 621.381 548 New frontiers in testing | 621.381 548 Testings impact on design and technology | 621.381 548 Integration of test with design and manufacturing | 621.381 548 Meeting the Tests of Time | 621.381 548 The changing philosophy of test | 621.381 548 Test and design validity |
Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές